X선이 발견된 지 30년이 지난 1920년대 초, X선 분광학은 이미 하나의 독립적인 분야로 자리 잡고 있었습니다. 1895년 뢴트겐이 X선을 발견한 이후, 과학자들은 이 새로운 전자기파가 무엇인지, 어떤 성질을 가지는지 탐구했습니다. 1912년 막스 폰 라우에가 X선을 결정에 통과시키면 회절 무늬가 생긴다는 것을 발견했습니다. 이것은 X선이 전자기파라는 증거였고, X선의 파장을 결정 구조를 이용해 측정할 수 있다는 의미였습니다. 1913년 모즐리는 원소들의 특성 X선 — 각 원소 고유의 X선 스펙트럼 — 이 원소의 원자번호와 체계적인 관계를 가진다는 것을 보여주었습니다.
이것은 원자번호가 단순한 순서 번호가 아니라 핵의 양성자 수라는 물리적 의미를 가진다는 것을 시사했습니다. 하지만 더 정밀하게, 더 체계적으로 측정할 방법이 필요했습니다.
칼 만네 게오르크 시그반이 그 정밀함을 만들었습니다. 그는 X선 분광기를 획기적으로 개선해서, 이전까지 측정하기 어려웠던 파장 영역의 X선 스펙...