반도체 소자의 신뢰성 평가에서 High Temperature Storage(HTS)는 장기간 고온 환경에서 보관되는 동안 소자의 기능적 안정성과 열적 내구성을 검증하기 위한 핵심적인 가속 스트레스 시험이다. HTS는 전기적 동작 없이 비활성 상태(non-operating) 조건에서 수행되며, Device 내부 재료 특성 변화, 접합 계면 열화, 금속 확산, 누설 전류 증가 등 장기 열 스트레스가 성능에 어떤 영향을 미치는지를 가속적으로 평가한다.
HTS는 소자의 장기 보존 안정성을 평가하기 위한 “비동작 열 스트레스 가속 시험”이다. 신뢰성 분석 High Temperature Storage(HTS) 왜 필요한가?
HTS의 목적 반도체 소자가 장기간 높은 온도 환경에 저장되어도 기능을 유지할 수 있는지 확인 고온 보관 중에 발생할 수 있는 열화 메커니즘(Degradation Mechanism) 분석 패키징 구조 / 금속 계층 / 인터커넥트 / Passivation / Bump / EM...
원문 링크 : 신뢰성 분석 High Temperature Storage
