NI 다기능 I/O (MIO) DAQ 디바이스 및 모듈의 스펙 매뉴얼은 사용자의 어플리케이션에 가장 적합한 DAQ 디바이스 또는 모듈을 결정하거나 선택하는 데 필요하고, 시스템 개발 시 디바이스 또는 모듈 성능을 검증하기 위한 참조로서 활용할 수 있는 기술 세부 정보를 제공합니다. 1. 전체 스케일에서의 절대 정확도 정확도는 정확한 측정 값에 얼마나 가까운지를 나타냅니다.
전체 스케일에서의 절대 정확도는 측정되는 값이 주어진 범위에서 지원되는 최대 전압이라고 가정하여 계산된 이론적 정확도입니다. 어떠한 측정의 정확도는 해당 측정이 변화하면 달라지므로 디바이스 간 비교를 하려면 전체 스케일에서의 정확도를 사용해야 합니다.
전체 스케일에서의 절대 정확도는 25 C 작동 온도 등 실제로는 달라질 수 있는 환경 변수에 대한 가정을 합니다. 공칭 범위 양의 전체 스케일 — 특정 범위에서 측정할 수 있는 이상적인 최대 양의 값 공칭 범위 음의 전체 스케일 — 특정 범위에서 측정할 수 있는 이상...
원문 링크 : NI 아날로그 DAQ장치의 스펙 관련 용어 설명서