[Analysis] SEM(Scanning Electron Microscopy)_주사 전자 현미경, EDS(Energy Dispersive Spectroscopy)

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오늘의 주제는 "SEM(Scanning Electron Microscopy)_주사 전자 현미경, EDS(Energy Dispersive Spectroscopy)" 입니다. 주사전자 현미경(Scanning Electron Microscopy) SEM은 Scanning Electron Microscopy의 약자 전자 현미경의 한 종류 전자 빔을 샘플 표면에 스캔하여 반사된 전자들을 수집하여 이미지를 생성 전자와 샘플 간의 상호작용 분석하여 매우 고해상도의 이미지 생성 광학현미경(Optical Microscope)에 비해 분해능이 우수하며 초점심도가 좋음 투과 전자 현미경(Transmission Electron Microscopy)에 비해 시료의 제조가 비교적 간단 거의 모든 재료의 분석이 가능 전자와 고체의 상호작용 전자(1차 전자)가 고체 시료에 조사되면 아래 전자들이 발생 특성 X선(EDS) Auger 전자(AES) 후방산란 전자(SEM) 2...

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