LANGER IC EMI스캔, 반도체 EMI측정, 반도체칩EMI측정, 반도체EMC측정, ICS105Set

IC EMI스캔, 반도체 EMI측정, 반도체칩EMI측정, 반도체EMC측정 / 문의 010-3802-7361 전자파측정시스템, PCB전자파측정, IC칩EMI측정 ICS105Set 스캐너 구성품 (ChipScan-Scanner SW 포함. USB 포트 인터페이스 지원.)

ICR H-field Probe frequency & resolution : 200 KHz ~ 6 GHz, 50 ~ 100 um (probe dependent.) ICR E-field Probe frequency & resolution : 7 MHz ~ 3 GHz, 65 um Pulse injector 구성품 (BPS 202-Client SW 포함.

USB 포트 인터페이스 지원.) ICI Field Source Probe로 펄스 인가.

(H-field, E-field, 전류) 특징 l 측정 레벨 : IC, Die l 측정 파라미터 : 제품 구성에 따라 방사(전계/자계) 또는 내성(ESD/EFT) 측정 가능 l High ...