로딩
요청 처리 중입니다...

정전기(ESD) 시험시 주의사항, 정전기가 전자기기에 주는 영향, 반도체 정전기 평가, HBM MODE, MM MODE, CDM MODE

 정전기(ESD) 시험시 주의사항, 정전기가 전자기기에 주는 영향,  반도체 정전기 평가, HBM MODE, MM MODE, CDM MODE

정전기 시험시 주의사항 문의 010-3802-7361 정전기 시험은, 방전 자체의 고주파 전압, 전류의 변동에 의해, 노이즈의 진입 경로가 특정 하기 어렵고, 재현성을 얻는 것이 상당히 어려운 시험입니다. 이 때문에, 고주파 펄스의 특성을 이해해, 가능한 한 시험시의 조작 방법, 시험 방법 등을 최적화하는 것이 시험의 재현성 향상에 연결됩니다.

정전기가 전자기기에 주는 영향 정전기를 금속 케이스나 금속 부분에 인가를 하면, 금속 케이스 등에 전위 변동과 면전류가 발생해, 이것이 케이스 내부에 2차적인 고주파 자계, 전계가 되어 회로에 결합하는 것으로, 신호선 이나 전원•GND의 전압 레벨을 변동시킵니다. 또, 기중 방전에서는 그 방전 현상에 의해 고주파의 전자계가 복사하거나 실제로 방전 현상이 일어나지 않는 경우에서도, 전위 (정전계) 변동이 발생한다.

반도체 평가 JEDEC 22-A114D , 22-A115A • 반도체용 정전기시험 - HBM - MM - CDM 발생 회로의 비교 ...

# CDM # 이엠테스트 # 노이즈켄정전기 # 노이즈켄ESD장비 # PRIMA # NOISEKEN정전기 # NOISEKENESD # MM # HBM # ESD평가 # ESD시험 # ESD세미나 # EMTEST # EMCPRIMA # EMCPARTNER # 정전기세미나자료