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LANGER한국총대리점, 독일LANGER대리점, EMI 측정 시스템 (IC 및 PCB), IEC61967-3에 따른 IC를 통한 표면 스캔용

 LANGER한국총대리점, 독일LANGER대리점, EMI 측정 시스템 (IC 및  PCB), IEC61967-3에 따른 IC를 통한 표면 스캔용

EMI 측정 시스템 (IC 및 PCB), EMI측정, IC칩 EMI측정 / 문의 010-3802-7361 ICS 105 세트 IC 스캐너 4축 위치확인 시스템 IEC61967-3에 따른 IC를 통한 표면 스캔용 www.youtube.com/watch?v=rjncvlJxHLo 사양 .IC를 통한 볼륨 검사 .단일 핀 스캔 .최대 위치 거리: (50 x 50 x 50) mm 및 +/- 180α-회전 .최소 위치 거리: (10 x 10 x 10) μm 및 1α-회전 .속도: (10 x 10 x 10) mm/s 및 90s α 회전 특징 칩스캔-스캐너 .신속한 결과 시각화 .데이터 처리 및 분석 .스펙트럼 분석기의 구성 .측정결과의 문서화 .라이브 시각화(라이브 트레이스) .위치 0, 수동 또는 스크립트 기반 탐침 동작 .스펙트럼에서 데이터 읽기 분석기 .측정결과의 시각화 in 2D or 3D .csv 및 이미지 파일로 출력 FLS 106 IC 세트 IC 스캐너 4축 위치확인 시스템 IEC6...

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