전기적 과부하 (EOS : Electrical Overstress) Test / 문의 010-3802-7361 EOS장비, EOS시험기, EOS테스터기, 저전압서지장비 대응규격 : IEC61000-4-5, KN61000-4-5, EN61000-4-5, KS61000-4-5 모델 : PTVS-10T0, PTVS-10T0K 1. 개요 EOS(Electrical Overstress)는 전자기적 신호 및 과전압에 의해 파괴 현상을 유발하여 주요 부품의 불량 원입니다.
IC의 경우 실리콘 공정 발전으로 내부의 트랜지스터의 면적이 점점 줄어들게 되었으며, 이에 따라 반도체는 EOS 및 ESD에 매우 민감하게 되었습니다. EOS는 반도체 제품군에서도 가장 중요한 불량원인 중에 하나가 되었으며 불량 증상으로는 연결부 단락, 금속층 단선, 산화막 게이트 파괴등이 발생 할 수 있습니다.
부품 및 시스템 단계의 개발자 및 공급자는 EOS를 개선하기 위한 노력이 필요합니다. 제품에 사용된 부품과 각종 신...
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원문 링크 : EMCPRIMA, EMCPRIMA한국총대리점, 전기적 과부하(EOS : Electrical Overstress)Test, EOS장비, PTVS-10T0, PTVS-10T0K
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