【개요】 ・EOS는 전자기적 신호 및 과전압/과전류에 의해 파괴 현상을 유발하여 주요 부품의 불량의 원인 ・EOS는 반도체 제품군에서도 가장 중요한 불량원인 중에 하나가 되었으며 불량 증상으로는연결부 단락, 금속층 단선, 산화막 게이트 파괴등이 발생 ・부품 및 시스템 단계의 개발자 및 공급자는 EOS를 개선하기 위한 노력이 필요 ・제품에 사용된 부품과 각종 신호선의 입/출력부에 Surge를 인가하여 EOS(Surge성)의 원인분석과 대책용 소자의 성능을 평가하는 목적으로 사용 【ESD vs Surge성 EOS】 ・ ESD 현상이 수ns 동안만 지속된다면, Surge성 EOS는 보다 오랜 시간동안 지속(us)되며 이는 PCB 내부의 부품에 광범위한 손상을 유발 ・일반적으로 ESD는 EOS의 한부분으로 고려되기도 하지만, EOS는 독립적으로 접근해야 할 필요성이 있습니다. #EOS장비전류, #서지전류, #낙뢰전류, #AMETEK, #아메텍, #노이즈켄, #NOISEKEN, #EMTEST...
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