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EMC측정, EMI측정장비, 노이즈측정시스템 / 문의 010-3802-7361 * Model : ICS105 * 개요 ICS 105 IC 스캐너는 Langer EMV-Technik GmbH의 마이크로 프로브와 함께 사용되는 4축 위치 시스템으로, 집적 회로(IC) 이상의 고주파 근거리 필드를 테스트하거나 측정하는 데 사용됩니다. ICR 근거리 필드 프로브는 최대 70μm, 수동 근거리 필드 프로브는 최대 20GHz, ICI L-EFT 소스(IC EM 펄스 주입) 등이 스캐너에 의해 지원됩니다.

사용하는 근거리 마이크로프로브에 따라 자기장 또는 전기장을 측정할 수 있습니다. 또한 해당 주입 프로브를 사용하여 IC의 ESD 또는 EFD 면역력 테스트에 장애를 설정할 수 있습니다.

프로브/소스는 X축, Y축 및 Z축의 DUT 표면을 가로질러 이동할 수 있으며, 프로브가 Z축을 중심으로 회전할 수 있습니다. 테스트 IC에서 프로브 팁의 거리는 언제든지 DM-CAM 디지털 현미경 카메라로 시...