전자기파(EMI: Electromagnetic Interference) 문제는 현대 전자기기에서 성능 저하, 통신 장애, 제품 인증 실패 등을 유발하는 주요 원인 중 하나입니다. 특히 회로 설계, 제품 양산 전에 노이즈의 원인을 빠르게 파악하고 해결하는 것은 매우 중요합니다.
이때 Near Field Probe(근접장 프로브)는 EMC/EMI 측정의 핵심 도구로 활약합니다. 오늘은 EMI 측정에서 Near Field Probe가 왜 필요한지, 어떤 역할을 하는지 알아보겠습니다.
Near Field Probe란? Near Field Probe(근접장 프로브)는 전자기기의 회로나 부품에서 발생하는 전자파를 근거리(수 cm 이내)에서 탐지하여 신호를 측정할 수 있도록 설계된 측정 도구입니다.
일반적으로 스펙트럼 분석기(Spectrum Analyzer)와 함께 사용되어, 특정 주파수에서의 노이즈 성분을 시각적으로 확인할 수 있습니다. Near Field Probe의 종류 Near Fi...
