LANGER한국총판 EMI 측정 안테나 (30MHz~3GHz)고정밀 전자파 측정의 시작, LANGER 근거리 프로브

LANGER EMI 측정 안테나는 전자기기, 회로, 모듈 등에서 발생하는 불요 전자파 EMI를 30MHz 3GHz 범위에서 정밀하게 탐지하는 근거리 측정용 안테나이다. 독일 LANGER사의 고품질 설계와 우수한 주파수 응답 특성을 바탕으로 개발 및 디버깅 환경에서 EMI 노이즈 탐색과 설계 개선 포인트 식별에 최적화되어 있다. EMI는 국제 인증 실패의 주요 원인으로 지목되므로 개발 단계에서 사전 탐지하고 개선하는 것이 시간과 비용을 크게 줄일 수 있다.

특히 회로 또는 PCB에서의 국부 EMI 발생 위치를 탐지하는 데 유용하며, LANGER 프로브는 고해상도 EMI 스캔을 지원한다. 30MHz에서 3GHz까지의 범위는 가전, 산업기기, 통신기기 등 대부분의 제품이 인증을 요구하는 주파수 영역에 해당한다. 설계 단계에서의 EMI 사전 점검은 정식 시험소에 보내기 전 자체 점검으로 인증 실패 가능성을 미리 차단하는 데 도움을 준다.

주요 도입 목적은 EMI 노이즈 소스 파악으로 정밀한 프로빙으로 EMI 방사 원인을 식별하고, 사전 인증 대비 리스크를 차단하며, 제품 설계 최적화를 위한 참고 데이터를 확보하는 데 있다. 반복 테스트를 통해 다양한 위치와 조건에서의 비교가 가능하며, 고주파 노이즈 감지도 가능한 점이 큰 강점이다. 적용 분야로는 가전제품, IoT, 산업용 제어기기의 EMI 사전 테스트, SMPS, 인버터, 모터 드라이브 등 고주파 소스 분석, 고속 디지털 회로의 디버깅, RF 회로의 방사 노이즈 식별 등이 있다. 제품 개발 초기 EMI 리스크 진단에 유용한 모델로 RF Basic set(30MHz 3GHz EMI측정 안테나)과 RF-R 400-1, RF-R 3-2, RF-B 3-2, RF-U 2.5-2의 H-Field Probe 구성이 제시된다.

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