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반도체 수율 분석: Chip Yield, Binning, Defect Level

 반도체 수율 분석: Chip Yield, Binning, Defect Level

Yield(수율)는 공정에서 얼마나 많은 Chip이 정상적으로 작동하는지를 나타내며, 이는 Chip 판매 가격의 핵심 변수입니다. 특히 최신 공정일수록 Wafer 처리 단가는 높고, 이로 인해 Yield의 중요성은 더욱 커집니다.

Chip Yield (반도체 칩 수율) VLSI 제조에서의 Yield는 Wafer에서 제조된 Chip 중 결함이 없고 정상 작동하는 Chip의 비율을 의미합니다. Defect Density, Chip Area, Fault Clustering, 공정 성숙도 등 다양한 변수에 영향을 받습니다.

자세한 내용은 아래 참고: https://blog.naver.com/gc_na/223613047920?trackingCode=blog_bloghome_searchlist 선단공정과 성숙공정의 기준 + 어느정도면 양산이 가능할까?

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