【신제품 출시】고밀도 기판 검사를 위한 '플라잉 프로브 테스터 FA1815-20'를 소개합니다

새롭게 발매된 '플라잉 프로브 테스터 FA1815-20'!를 소개합니다!

FA1815-20은 최첨단 IT 기술에 이용되는 고밀도 기판 검사를 위한 플라잉 프로브 테스터입니다. 최고 속도 100 포인트 초당 검사 속도와 높은 프로브 위치 정밀도, 그리고 10V 전압으로 100GΩ의 높은 절연 저항을 검사할 수 있는 기능을 탑재하였습니다.

프로브 카드를 비롯한 고밀도 기판의 검사 시간 단축과 잠재 불량을 제거한 높은 품질을 실현하며 반도체 산업의 생산성 향상에 공헌합니다. 검사시간을 기존대비 최대 30％ 단축 프로빙 정밀도와 검사시간 단축을 양립하는 튜닝과 새로운 검사순서 계산 알고리즘을 채택해 기존제품 대 비 최대 30% 검사시간을 단축했습니다 .

고신뢰성을 실현하는 프로빙 정밀도 기판의 고밀도화가 진행되며 더 좁은 피치로 확실한 콘택트가 요구되고 있습니다 . FA1815-20은 피드백 제어를 새롭게 업그레이드하고 강성(剛性)을 재설 계해 높은 프로빙 정밀도를 실현합니다. 10 V 로...