[열화상카메라] 활용- 전자회로의 노화 테스트

1.전자회로 > 노화시험 # 노화시험 (1) 활용 배경 소개 : 사용초기에는 제품에 문제가 발생하기 쉽고, 반도체 장치의 안정성을 향상시키기 위해서는 칩노화, 회로기판 노화 및 반제품을 포함하여 장치를 정지상태로 만드는노화실험이 필요합니다. 완성된 기계의 숙성실험.

이 실험에서는 제품의 온도변화를모니터링해야 합니다. 노화는 고온 및 저온노화 및 온라인 노화시험으로 구분됩니다.

인큐베이터에서 고온 및 저온 에이징을 수행해야 합니다. 온라인 노화는 지속적인전원 켜기작업을 위해 장비를 절약하기만 하면 되며 일반적으로 생산노후화를 위해노화된 공간에 배치됩니다. (2) 고객이 해결해야 할 문제 : 숙성 과정에서 제품의 온도를 모니터링하고 온도 변화 과정을 확인하고 제품 성능을 확인하십시오.

*노화 과정 중 제품고장으로 인한 화재를 예방합니다. (3) 사례 분석 : 연장 된 노화 동안 보드의 온도 변화를 관찰하십시오. (4) 고객이 문제를 해결할 필요가 있는 부분 : -전자 회로, 칩 및 전기...